塑料薄膜測(cè)厚儀廠家

塑料薄膜測(cè)厚儀廠家，采用接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-07-10
訪問(wèn) 量：1619

立即咨詢

聯(lián)系電話：0531-88983898

產(chǎn)品詳情

　　薄膜等包裝材料厚度是否均勻一致，是檢測(cè)薄膜各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。薄膜厚度不均勻，不但會(huì)影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性等，更會(huì)影響薄膜的后續(xù)加工。

　　塑料薄膜厚度測(cè)量用什么儀器？

　　塑料薄膜測(cè)厚儀廠家，THK-01適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。

　　測(cè)試原理：

　　測(cè)厚儀THK-01采用接觸式測(cè)試原理，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。

　　參照標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T6672(塑料薄膜與薄片厚度的測(cè)定機(jī)械測(cè)量法)、GB/T451.3(GB/T451.3紙張和紙板厚度測(cè)定方法)、GB/T6547(瓦楞紙板的厚度測(cè)量準(zhǔn)則)、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817、GB/T 6618-2009《硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法》

　　塑料薄膜測(cè)厚儀THK-01主要參數(shù)：

　　1.通用名稱：測(cè)厚儀

　　2.測(cè)量范圍：0～2mm(標(biāo)配)；0～6mm、0～12mm(選配)

　　3.分辨率：0.1μm

　　4.測(cè)試速度：1～25次/min

　　5.測(cè)量頭平行度：±2μm(機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn))

　　6.重復(fù)性：0.3μm

　　7.測(cè)量壓力：17.5±1kPa(薄膜)、50±1kPa(紙張)

　　8.接觸面積：50mm²(薄膜)； 200mm² (紙張)；

　　9.薄膜、紙張任選一種，非標(biāo)可定制

　　10.電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz

　　11.外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)